大学院設置科目

材料機器分析特論

授業科目名 材料機器分析特論 (Advanced Course of Instrumental Analysis for Materials)
開講時期 後学期 
単位数 2-0-0
担当教員 小野昭茂(非常勤講師)他
連絡先 (連絡教員: 矢野哲司 准教授) 大岡山南7号館7階713号室(内線2523) tetsuji(a)ceram.titech.ac.jp[(a)は@と読み替える]
講義のねらい

 色々な材料に対しての評価・分析用として現在、数多くの分析機器が用いられている。本講義では多くの分析機器のうち、汎用的に使用されている主な分析機器について、その原理から最新の測定例を含めた応用に関する講義を行う。

講義計画
  1. 機器分析概論
  2. 透過電子顕微鏡(TEM)の基礎と応用
  3. 走査電子顕微鏡(SEM)の基礎と応用
  4. 電子線マイクロアナライザ(EPMA)の基礎と応用
  5. オージェ電子分光装置(AES)の基礎と応用
  6. 光電子分光装置(XPS)の基礎と応用
  7. 走査プローブ顕微鏡(SPM)の基礎と応用
  8. 収束イオンビーム装置の基礎と応用
  9. X線回折装置(XRD)/蛍光X線分析装置(XRF)
  10. 赤外/ラマン分光装置の基礎と応用
  11. 核磁気共鳴装置(NMR)の基礎と応用
  12. 電子スピン共鳴装置(ESR)の基礎と応用
  13. 質量分析(MS)の基礎と応用
  14. 機器分析装置の見学(工場見学)
成績評価

 出席点,レポート点で総合的に評価する.

テキスト等
 特に指定しない
履修の条件

 なし

担当教官から一言

 色々なタイプの分析機器について,その原理,分析能力,特徴,分析法等を良く理解しておくことは,分析目的に合った分析機器を選択する際の大いなる手助けとなると思われる.

オフィスアワー

数人の専門家による講義のため,講義終了後,すぐに先生にコンタクトして,質問事項や連絡方法を相談する.